В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов.
V posobii rassmotreny fizicheskie osnovy elektronno-mikroskopicheskogo, rentgenostrukturnogo, spektralnogo, mikrorent-genospektralnogo, magnitnogo, akusticheskogo metodov kontrolja struktury materialov i kachestva izgotovlennykh iz nikh detalej. Proanalizirovany metody vypolnenija issledovanij, privedeny trebovanija, predjavljaemye k obektam issledovanij. Opisany printsipy dejstvija i ustrojstvo priborov, ispolzuemykh dlja realizatsii metodov, v tom chisle rastrovogo i transmissionnogo elektronnogo mikroskopov, tunnelnogo mikroskopa, priborov spektralnogo, magnitnogo i akusticheskogo kontrolja. Dlja studentov i prepodavatelej tekhnicheskikh vuzov.
