Пособие посвящено описанию теоретических основ и методических подходов к исследованию систем пониженной размерности посредством инфракрасной спектроскопии. Для студентов и аспирантов, специализирующихся в области физики полупроводников, оптики твердого тела и оптических методов исследования новых материалов, а также для дополнительного обучения в рамках физико-химических, материаловедческих специальностей и специализаций, связанных с оптическими методами анализа низкоразмерных структур.
Posobie posvjascheno opisaniju teoreticheskikh osnov i metodicheskikh podkhodov k issledovaniju sistem ponizhennoj razmernosti posredstvom infrakrasnoj spektroskopii. Dlja studentov i aspirantov, spetsializirujuschikhsja v oblasti fiziki poluprovodnikov, optiki tverdogo tela i opticheskikh metodov issledovanija novykh materialov, a takzhe dlja dopolnitelnogo obuchenija v ramkakh fiziko-khimicheskikh, materialovedcheskikh spetsialnostej i spetsializatsij, svjazannykh s opticheskimi metodami analiza nizkorazmernykh struktur.
