В книге подробно рассмотрены проблемы уязвимости микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) к естественным и преднамеренным деструктивным воздействиям, включающим кибернетические и электромагнитные воздействия. Описаны современные технические...
V knige podrobno rassmotreny problemy ujazvimosti mikroprotsessornykh ustrojstv relejnoj zaschity (MURZ) k estestvennym i prednamerennym destruktivnym vozdejstvijam, vkljuchajuschim kiberneticheskie i elektromagnitnye vozdejstvija. Opisany sovremennye tekhnicheskie...