1. Livres
  2. Sciences naturelles
  3. Reflektometrija poljarizovannykh nejtronov

Reflektometrija poljarizovannykh nejtronov

Рефлектометрия поляризованных нейтронов
Reflektometrija poljarizovannykh nejtronov
Langue
Des mesures
215/145 mm
Éditeur
Année de sortie
Format
Pages
224
ISBN
978-5-9221-1491-2
 
Le produit n'est plus disponible
Écrivez-moi quand disponible Ajouter aux Favoris
В книге на материале экспериментальных данных описан метод исследований слоистых наноструктур, основанный на использовании зеркального отражения, пропускания, преломления и рассеяния поляризованных нейтронов. На конкретных примерах изложены элементы теории прохождения нейтронов через слоистую структуру с учетом их диффузного рассеяния на шероховатостях границ раздела. Подробно рассмотрены режимы нейтронного волнового поля в слоистой структуре, позволяющие проводить высокочувствительные измерения ядерной и магнитной структур. Описана практически вся экспериментальная техника, используемая в измерениях с поляризованными нейтронами при скользящих углах падения нейтронов. Большое внимание уделено дальнейшему развитию метода рефлектометрии с поляризованными нейтронами. Книга будет полезной научным работникам, желающим применить данный метод в исследованиях нанообъектов, а также студентам физических специальностей вузов.
V knige na materiale eksperimentalnykh dannykh opisan metod issledovanij sloistykh nanostruktur, osnovannyj na ispolzovanii zerkalnogo otrazhenija, propuskanija, prelomlenija i rassejanija poljarizovannykh nejtronov. Na konkretnykh primerakh izlozheny elementy teorii prokhozhdenija nejtronov cherez sloistuju strukturu s uchetom ikh diffuznogo rassejanija na sherokhovatostjakh granits razdela. Podrobno rassmotreny rezhimy nejtronnogo volnovogo polja v sloistoj strukture, pozvoljajuschie provodit vysokochuvstvitelnye izmerenija jadernoj i magnitnoj struktur. Opisana prakticheski vsja eksperimentalnaja tekhnika, ispolzuemaja v izmerenijakh s poljarizovannymi nejtronami pri skolzjaschikh uglakh padenija nejtronov. Bolshoe vnimanie udeleno dalnejshemu razvitiju metoda reflektometrii s poljarizovannymi nejtronami. Kniga budet poleznoj nauchnym rabotnikam, zhelajuschim primenit dannyj metod v issledovanijakh nanoobektov, a takzhe studentam fizicheskikh spetsialnostej vuzov.
Catégorie
EAN
9785922114912
Classifiсation de la bibliothèque BIC:
RN