Систематизированы сведения о современных методах измерения параметров и испытаний полупроводниковых приборов, интегральных микросхем и оптоэлектронных элементов. Рассмотрены перспективные способы определения характеристик изделий электронной техники, в том числе силовых полупроводниковых приборов. Приведены схемы автоматических контрольных устройств и измерительных станций. Для инженерно-технических работников в области электронно-измерительной техники, студентов вузов и широкого круга читателей, интересующихся вопросами качества электронных приборов.
Sistematizirovany svedenija o sovremennykh metodakh izmerenija parametrov i ispytanij poluprovodnikovykh priborov, integralnykh mikroskhem i optoelektronnykh elementov. Rassmotreny perspektivnye sposoby opredelenija kharakteristik izdelij elektronnoj tekhniki, v tom chisle silovykh poluprovodnikovykh priborov. Privedeny skhemy avtomaticheskikh kontrolnykh ustrojstv i izmeritelnykh stantsij. Dlja inzhenerno-tekhnicheskikh rabotnikov v oblasti elektronno-izmeritelnoj tekhniki, studentov vuzov i shirokogo kruga chitatelej, interesujuschikhsja voprosami kachestva elektronnykh priborov.
