В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.
V posobii rassmotreny fizicheskie osnovy kristallografii, osnovy teorii difraktsii na trekhmernoj reshetke (podkhod Laue), metody poluchenija rentgenovskogo izluchenija i ego osnovnye svojstva, osnovnye napravlenija strukturnogo analiza, fizicheskie osnovy dinamicheskoj teorii rassejanija, integralnye metody analiza formy difraktsionnoj linii, metody rentgenovskoj topografii, rassejanie pod malymi uglami. V kazhduju glavu vkljucheny primery reshenija tipovykh zadach po izuchaemoj teme. V kontse kazhdoj glavy privedeny kontrolnye voprosy i zadanija, zadachi dlja samostojatelnoj raboty, a takzhe rekomenduemaja literatura. V kontse posobija pomeschen rjad prilozhenij, v kotorykh privedeny svedenija, neobkhodimye dlja uspeshnogo ovladenija izuchaemoj distsiplinoj. Sootvetstvuet aktualnym trebovanijam Federalnogo gosudarstvennogo obrazovatelnogo standarta srednego professionalnogo obrazovanija i professionalnym trebovanijam. Dlja studentov srednego professionalnogo obrazovanija.
