Изложены основные положения теоретической, прикладной и законодательной метрологии. Рассмотрены теоретические основы и прикладные вопросы метрологии на современном этапе, исторические аспекты и положения метрологии нанотехнологий и квантовых процессов как особого вида измерений физических величин. Представлены основные положения Федерального закона от 26 июня 2008 г. No 102-ФЗ "Об обеспечении единства измерений". Соответствует требованиям Федеральных государственных образовательных стандартов высшего образования последнего поколения. Для студентов высших технических учебных заведений, обучающихся по техническим специальностям, в качестве учебника по общепрофессиональным и специальным дисциплинам, а также для лиц, интересующихся вопросами измерений и метрологического обеспечения.
Izlozheny osnovnye polozhenija teoreticheskoj, prikladnoj i zakonodatelnoj metrologii. Rassmotreny teoreticheskie osnovy i prikladnye voprosy metrologii na sovremennom etape, istoricheskie aspekty i polozhenija metrologii nanotekhnologij i kvantovykh protsessov kak osobogo vida izmerenij fizicheskikh velichin. Predstavleny osnovnye polozhenija Federalnogo zakona ot 26 ijunja 2008 g. No 102-FZ "Ob obespechenii edinstva izmerenij". Sootvetstvuet trebovanijam Federalnykh gosudarstvennykh obrazovatelnykh standartov vysshego obrazovanija poslednego pokolenija. Dlja studentov vysshikh tekhnicheskikh uchebnykh zavedenij, obuchajuschikhsja po tekhnicheskim spetsialnostjam, v kachestve uchebnika po obscheprofessionalnym i spetsialnym distsiplinam, a takzhe dlja lits, interesujuschikhsja voprosami izmerenij i metrologicheskogo obespechenija.
