Interferentsija v tonkikh plenkakh. Opredelenie geometricheskikh parametrov poverkhnostej prozrachnykh tel interferentsionnym metodom

Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом

• Tekijä(t): Vishnjakova S.A., Vishnjakov V. V.
• Kieli: Venäjä
• Mitat: 200/147 mm
• Kustantaja: MGTU im. N. E. Baumana
• Ilmestymisvuosi: 2014
• Sidosasu: Pehmeä kansi
• Sivumäärä: 32
• ISBN: 978-5-7038-3832-7

Рассмотрены основные закономерности явления интерференции света и интерференции света в тонких пленках. Изложена методика наблюдения колец Ньютона и применения интерференционного метода для определения геометрических параметров поверхностей прозрачных тел, таких, как радиус кривизны поверхностей выпуклой и вогнутой линз, размеры воздушной полости в твердой среде. Для студентов второго курса всех специальностей МГТУ им. Н.Э.Баумана.