Монография посвящена геометрическим основам кристаллографии. Изложение базируется на четырех аксиомах: дискретности, покрытия, локального равенства, рациональности. Эти аксиомы физически достаточно очевидны, что помогает выяснить причины кристаллообразования. Все основные понятия кристаллографии (решетка, голоэдрия, сингония и так далее) получают строгие определения, а основные положения представлены в виде теорем. Книга рассчитана на специалистов и учащихся, интересующихся кристаллографией: математиков, физиков, химиков, минералогов.
Monografija posvjaschena geometricheskim osnovam kristallografii. Izlozhenie baziruetsja na chetyrekh aksiomakh: diskretnosti, pokrytija, lokalnogo ravenstva, ratsionalnosti. Eti aksiomy fizicheski dostatochno ochevidny, chto pomogaet vyjasnit prichiny kristalloobrazovanija. Vse osnovnye ponjatija kristallografii (reshetka, goloedrija, singonija i tak dalee) poluchajut strogie opredelenija, a osnovnye polozhenija predstavleny v vide teorem. Kniga rasschitana na spetsialistov i uchaschikhsja, interesujuschikhsja kristallografiej: matematikov, fizikov, khimikov, mineralogov.
