В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям "Радиотехника", "Инфокоммуникационные технологии и системы связи", "Конструирование и технология электронных средств", "Электроника и наноэлектроника", "Электроэнергетика и электротехника" (уровень магистратура), аспирантам направлений "Электроника, радиотехника и системы связи", "Электро- и теплотехника".
V monografii na osnove analiza tekhnicheskoj i patentnoj literatury i rezultatov issledovanij avtorov za poslednie dvadtsat let rassmotreny metody kontrolja, programmy ispytanij, konstruktsii ustrojstv (testerov) dlja kontrolja parametrov analogovykh mikroskhem, silovykh diodov i tranzistorov, privedeny opisanija otechestvennykh i zarubezhnykh testerov.Monografija prednaznachena dlja inzhenerno-tekhnicheskikh rabotnikov predprijatij elektronnoj i radioelektronnoj promyshlennosti, takzhe mozhet byt polezna studentam, obuchajuschimsja po napravlenijam "Radiotekhnika", "Infokommunikatsionnye tekhnologii i sistemy svjazi", "Konstruirovanie i tekhnologija elektronnykh sredstv", "Elektronika i nanoelektronika", "Elektroenergetika i elektrotekhnika" (uroven magistratura), aspirantam napravlenij "Elektronika, radiotekhnika i sistemy svjazi", "Elektro- i teplotekhnika".
