В книге рассматриваются методы и алгоритмы анализа логических корреляций в цифровых КМОП-схемах. Показаны возможности использования логических корреляций для повышения качества результатов проектирования в анализе помехоустойчивости и быстродействия схем. Книга основана на результатах, полученных в Учреждении Российской академии наук Институте проблем проектирования в микроэлектронике РАН (ИППМ РАН). Материал, изложенный в книге, является основой лекционного курса для магистров факультета ЭКТ Московского института электронной техники, обучающихся по направлению "Электроника и микроэлектроника", а также предназначен для научных работников и инженеров, специализирующихся в области методов математического моделирования САПР СБИС.
V knige rassmatrivajutsja metody i algoritmy analiza logicheskikh korreljatsij v tsifrovykh KMOP-skhemakh. Pokazany vozmozhnosti ispolzovanija logicheskikh korreljatsij dlja povyshenija kachestva rezultatov proektirovanija v analize pomekhoustojchivosti i bystrodejstvija skhem. Kniga osnovana na rezultatakh, poluchennykh v Uchrezhdenii Rossijskoj akademii nauk Institute problem proektirovanija v mikroelektronike RAN (IPPM RAN). Material, izlozhennyj v knige, javljaetsja osnovoj lektsionnogo kursa dlja magistrov fakulteta EKT Moskovskogo instituta elektronnoj tekhniki, obuchajuschikhsja po napravleniju "Elektronika i mikroelektronika", a takzhe prednaznachen dlja nauchnykh rabotnikov i inzhenerov, spetsializirujuschikhsja v oblasti metodov matematicheskogo modelirovanija SAPR SBIS.
