1. Libros
  2. Ciencias naturales
  3. Formirovanie i svojstva tsentrov ljuminestsentsii v schelochno-galoidnykh kristallakh

Formirovanie i svojstva tsentrov ljuminestsentsii v schelochno-galoidnykh kristallakh

Формирование и свойства центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах
Formirovanie i svojstva tsentrov ljuminestsentsii v schelochno-galoidnykh kristallakh
Idioma
Mediciones
215/145 mm
Editor
Año de publicación
Páginas
192
ISBN
978-5-9221-0702-0
 
Producto no disponible
Notificar cuando disponible Agregar a los favoritos
Рассмотрены основные закономерности формирования структуры и оптических характеристик примесных центров люминесценции в кристаллофосфорах на основе щелочно-галоидных кристаллов. Ввиду простоты структуры щелочно-галоидных кристаллов, они являются удобным модельным объектом для демонстрации указанных закономерностей, а также для применения экспериментальных и теоретических методов изучения структуры примесных дефектов и формирования спектров поглощения и излучения света такими дефектами. Полученные закономерности легко распространяются и на другие кристаллофосфоры. Описано применение методов EXAFS- и XEOL-спектроскопии для исследования локальной структуры примесных дефектов в кристаллофосфорах. Данные методы позволяют получать структурную информацию, недоступную для других методов исследования. Для научных работников, преподавателей, аспирантов и студентов, специализирующихся в области физики твердого тела, радиационной физики, физики люминофоров.
Rassmotreny osnovnye zakonomernosti formirovanija struktury i opticheskikh kharakteristik primesnykh tsentrov ljuminestsentsii v kristallofosforakh na osnove schelochno-galoidnykh kristallov. Vvidu prostoty struktury schelochno-galoidnykh kristallov, oni javljajutsja udobnym modelnym obektom dlja demonstratsii ukazannykh zakonomernostej, a takzhe dlja primenenija eksperimentalnykh i teoreticheskikh metodov izuchenija struktury primesnykh defektov i formirovanija spektrov pogloschenija i izluchenija sveta takimi defektami. Poluchennye zakonomernosti legko rasprostranjajutsja i na drugie kristallofosfory. Opisano primenenie metodov EXAFS- i XEOL-spektroskopii dlja issledovanija lokalnoj struktury primesnykh defektov v kristallofosforakh. Dannye metody pozvoljajut poluchat strukturnuju informatsiju, nedostupnuju dlja drugikh metodov issledovanija. Dlja nauchnykh rabotnikov, prepodavatelej, aspirantov i studentov, spetsializirujuschikhsja v oblasti fiziki tverdogo tela, radiatsionnoj fiziki, fiziki ljuminoforov.
Categoría
EAN
9785922107020
Clasificación de la biblioteca BIC:
RN
Alternative ISBN
5-9221-0702-X
Productos similares
  • Año de publicación: 2020
    Encuadernación en rústica
    12.00 €
    10.91 € sin IVA
  • Pivnenko T.N.
    Año de publicación: 2020
    Tapa dura
    54.00 €
    49.09 € sin IVA
  • Nikolenko Polina Grigorevna
    Año de publicación: 2022
    Tapa dura
    38.00 €
    34.55 € sin IVA
  • Año de publicación: 2021
    Encuadernación en rústica
    16.00 €
    14.55 € sin IVA
  • Año de publicación: 2021
    Encuadernación en rústica
    12.00 €
    10.91 € sin IVA
  • Año de publicación: 2021
    Encuadernación en rústica
    13.00 €
    11.82 € sin IVA
  • Año de publicación: 2021
    Encuadernación en rústica
    13.00 €
    11.82 € sin IVA
  • Año de publicación: 2019
    Encuadernación en rústica
    11.00 €
    10.00 € sin IVA
  • Tomas
    Año de publicación: 2021
    21.00 €
    19.09 € sin IVA
  • Año de publicación: 2021
    Tapa dura
    39.00 €
    35.45 € sin IVA